|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Исследование локализации электромагнитного поля на периодических структурах и дефектах методом оптической микроскопии ближнего полястатья
- Авторы: Ежов А.А., Магницкий С.А., Музыченко Д.А., Панов В.И., Тарасишин А.В.
- Сборник: Материалы совещания «Зондовая микроскопия – 2000», Нижний Новгород, Россия, 28 февраля – 2 марта 2000 г
- Год издания: 2000
- Место издания: Нижний Новгород, Россия
- Первая страница: 137
- Последняя страница: 141
- Добавил в систему: Ежов Александр Анатольевич