|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Способ рентгеноспектрального определения размеров наночастиц в образцестатья
- Авторы: Бойко М.Е., Шарков М.Д., Бойко А.М., Бобыль А.В., Теруков Е.И.
- Журнал: Изобретения. Полезные модели. Официальный бюллетень Федеральной службы по интеллектуальной собственности (РОСПАТЕНТ)
- Том: 11
- Номер: 2548601
- Год издания: 2015
- Издательство: Федеральный институт промышленной собственности
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 18
- Аннотация: Способ рентгеноспектрального определения размеров наночастиц в образце, включающий последовательное облучение в режиме прохождения и в режиме отражения исследуемой области образца пучками монохроматизированных рентгеновских лучей с энергией, соответствующей их минимальному и максимальному поглощению вблизи К-краев поглощения рентгеновского излучения атомами элементов, входящих в состав исследуемой области образца, регистрацию кривых малоуглового рассеяния рентгеновских лучей в режиме прохождения при первом и втором взаимно перпендикулярных положениях образца и в режиме отражения от исследуемой области образца при вращении образца в плоскости регистрации и при неподвижном кристалле-монохроматоре и определение размеров наночастиц по форме кривых малоуглового рассеяния рентгеновских лучей.
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич