Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Small-Angle Scattering of X-Rays (S-AS) of GaN, Deposited on SiC and Al2O3 Substrates
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 22 февраля 2016 г.
Авторы:
Boiko M.E.
,
Shreter Yu G.
,
Mokhov E.N.
Сборник:
E-MRS, Strasbourg
Серия:
Symposium: CII/P6
Тезисы
Год издания:
1997
Место издания:
Strasbourg
Первая страница:
10
Добавил в систему:
Бойко Михаил Евгеньевич