|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Прикраевое малоугловое рентгеновское рассеяние как способ решения проблемы неопределенности размера/состава кристаллических неоднородностейстатья
- Авторы: Будкина Н.С., Бойко М.Е., Шарков М.Д.
- Журнал: Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника». Нижний Новгород Труды
- Том: 2
- Год издания: 2015
- Первая страница: 445
- DOI: ISBN 978-5-91326-322-3
- Аннотация: Работа посвящена исследованию размеров зерен-доменов, образовавшихся в результате спинодального распада пленки твердого раствора полупроводникового соединения в системе A3B5/A2B6. Использование прикраевого рентгеновского излучения позволило однозначно определить, что зерна-кластеры A3B5 в два раза толще совпадающих с ними по планарным размерам кластеров A2B6: 30*350*350нм и 15*350*350нм.
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич