|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
X-Ray microscopy with extremely asymmetric reflection from a crystalстатья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 февраля 2016 г.
- Авторы: Андреев Анатолий Васильевич, Konovko A.A.
- Журнал: Moscow University Physics Bulletin
- Том: 57
- Номер: 5
- Год издания: 2002
- Издательство: Allerton Press
- Местоположение издательства: New York, N.Y., United States
- Первая страница: 60
- Последняя страница: 60
- Аннотация: The feasibility of obtaining a submicron resolution in the X-ray microscope using as an optical element a crystal-monochromator in an extremely asymmetric scheme of diffraction has been demonstrated. The dependence of resolution on unit parameters has been studied. The optimal geometry of the experiment and the wavelengths for obtaining a submicron resolution has been determined.
- Добавил в систему: Коновко Андрей Андреевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | en-02-57-5-060.pdf | 169,4 КБ | 22 октября 2015 [andrey_konovko] |