Расчет контраста протяженных дефектов в методе индуцированного рентгеновским пучком тока

Авторы: Шабельникова Я.Л., Якимов Е.Б., Григорьев М.В., Фахртдинов Р.Р., Бушуев В.А.
Журнал: Письма в "Журнал технической физики"
Том: 38
Номер: 20
Год издания: 2012
Издательство: Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 1
Последняя страница: 7
Аннотация: Для метода наведенного рентгеновского пучком тока (XBIC) рассчитан контраст протяженных дефектов — дислокаций и границ зерен. Показано, что максимальный контраст растет при увеличении диффузионной длины неравновесных носителей заряда и уменьшается при увеличении ширины рентгеновского зонда. Приведено сравнение модельных и экспериментально измеренных профилей контраста наведенного тока от границ зерен.
Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА