|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
SiM‐X: Silicon microcalorimeters for high precision X‐ray spectroscopy of highly‐charged heavy ions at FAIRтезисы доклада
- Авторы: Kraft-Bermuth S., Andrianov V.A., Bleile A., Echler A., Egelhof P., Grabitz P., McCammon D., Scholz P.
- Сборник: Abstracts of the 16th International Workshop on Low Temperature Detectors, 20-24 July 2015, Grenoble, France
- Тезисы
- Год издания: 2015
- Место издания: Grenoble, France
- Первая страница: 184
- Последняя страница: 184
- Добавил в систему: Андрианов Виктор Александрович