|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Структуроскопы и анизометры на постоянных магнитахстатья
- Авторы: Захаров В.А., Молин С.М., Леньков С.В., Колясев В.А.
- Сборник: II Всероссийская научно-практическая конференция «Научное приборостроение – современное состояние и перспективы развития». Сборник материалов
- Год издания: 2018
- Место издания: Казань
- Первая страница: 124
- Последняя страница: 125
- Аннотация: В работе представлены приборы магнитного контроля, работающие в режиме «приложенного поля» постоянных магнитов. Описаны преимущества структуроскопов и анизометров, работающих по этому принципу действия, в сравнении с известными приборами – «приставными коэрцитиметрами». Исследована зависимость показаний аппаратуры от ориентации оси чувствительности преобразователя магнитного поля по отношению к полю постоянных магнитов. Показана возможность определения структуры и напряженно-деформированного состояния изделий из ферромагнитных материалов в условиях локального измерения параметров материала (в том числе при длительном мониторинге состояния объекта), а также при поступательном и вращательном сканировании датчика по поверхности изделия.
- Добавил в систему: Молин Сергей Михайлович