Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Интерпретация и обработка кривых зеркального отражения рентгеновских лучей от многослойных структур методом вейвлет-анализа
тезисы доклада
Авторы:
Егоров Д.К.
,
Прудников И.Р.
Сборник:
Рентгеновская оптика 2018, сборник докладов конференции
Тезисы
Год издания:
2018
Место издания:
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук г. Черноголовка
Первая страница:
26
Последняя страница:
28
Добавил в систему:
Прудников Илья Рудольфович