Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Электрические пробои МОП- структур - важнейший фактор плазменной деградации микроэлектронных чипов
статья
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Рябый В.А.,
Савинов В.П.
,
Спорыхин А.А.
, Якунин В.Г.
Журнал:
Гетеромагнитная микроэлектроника
Том:
25
Номер:
2
Год издания:
1996
Первая страница:
127
Последняя страница:
134
Добавил в систему:
Савинов Владимир Павлович