Экспериментальная оценка радиационной стойкости переключательных p-i-n диодов

Авторы: Лагов П.Б., Дренин А.С., Паничкин А.В., Мельников А.Л.
Сборник: Сборник трудов Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем «Стойкость-2007» (г.Лыткарино, 5-6 июня 2007)
Серия: РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ
Том: 10
Тезисы
Год издания: 2007
Место издания: СПЭЛС Москва
Первая страница: 224
Последняя страница: 224
Аннотация: Исследовано влияние облучения быстрыми электронами (6 МэВ) электронами на прямую вольт-амперную характеристику переключательных p-i-n диодов с различной шириной i-слоя. Определены значения потоков быстрых электронов, при которых наблюдается рост прямого падения напряжения на 50%.
Добавил в систему: Лагов Петр Борисович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА