Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Использование полного внутреннего отражения для определения оптических констант и толщины полупрозрачных фотокатодов
статья
Авторы:
Мельникова О.Н.
,
Куфаль Г.Э.
,
Плиев Л.Ф.
,
Фок М.В.
Журнал:
Электронная техника. Сер.4
Номер:
1
Год издания:
1980
Первая страница:
10
Последняя страница:
14
Добавил в систему:
Мельникова Ольга Николаевна