Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Modeled and measured scatter from vias
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.
Авторы:
Stover J., Scheer C., Ivakhnenko V.,
Eremin Yu
,
Grisina N.
Сборник:
Proc. SPIE
Том:
3732
Тезисы
Год издания:
1999
Издательство:
SPIE, the International Society for Optical Engineering
Местоположение издательства:
Bellingham, WA, United States
Первая страница:
65
Последняя страница:
71
Добавил в систему:
Гришина Наталья Владимировна