|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Scanning tunneling microscope for investigation of surface samples in inspection gas environmentстатья
- Авторы: Moiseev Yu N., Oreshkin A.I., Oreshkin S.I., Vasil'ev S.I., Savinov S.V.
- Журнал: «Электронная промышленность»,
- Номер: 10
- Год издания: 1993
- Первая страница: 37
- Последняя страница: 38
- Добавил в систему: Орешкин Андрей Иванович