|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Контроль дефектов морфологии и топологии микро- и наносхемтезисы доклада
- Авторы: Федотов А.Ю., Ральникова А.С., Вахрушев А.В.
- Сборник: Тезисы VIII международной конференции "Кристаллизация: компьютерные модели, эксперимент, технологии"
- Тезисы
- Год издания: 2019
- Место издания: УдмФИЦ УрО РАН Ижевск
- Первая страница: 90
- Последняя страница: 92
- Добавил в систему: Федотов Алексей Юрьевич