|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
A contactless device for determining the lifetime of minor charge carriers in silicon wafers with p-n-junctionsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
- Авторы: Koshelev O.G., Morozova V.A.
- Журнал: Industrial Laboratory
- Том: 66
- Номер: 10
- Год издания: 2000
- Первая страница: 669
- Последняя страница: 670
- Добавил в систему: Кошелев Олег Григорьевич