Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Применение эмиссионной микроскопии для изучения механизма диффузии
статья
Авторы:
Петров В.С., Шлыков А.А., Ерофеев А.Е.,
Бекман И.Н.
Сборник:
Научно-технический сборник "Электронная техника"
Том:
7
Год издания:
1972
Место издания:
Материалы
Первая страница:
125
Последняя страница:
151
Добавил в систему:
Бекман Игорь Николаевич