|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Model of ion diffusion in synaptic cleft based on stochastical integration of langevin equation at dielectric friction approximationстатья Исследовательская статья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 24 января 2020 г.
- Авторы: Turchenkov D.A., Boronovsky S.E., Nartsissov Y.R.
- Журнал: Biophysics
- Том: 58
- Номер: 6
- Год издания: 2013
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 796
- Последняя страница: 803
- DOI: 10.1134/S0006350913060195
- Добавил в систему: Нарциссов Ярослав Рюрикович