|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Оценка интенсивности одиночных сбоев микросхем на космических аппаратах,статья
- Авторы: Башкиров В.Ф., Кузнецов Н.И., Ныммик Р.А.
- Журнал: Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру
- Год издания: 1999
- Издательство: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт приборов"
- Местоположение издательства: Лыткарино
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 2
- Аннотация: издательство Атомиздат
- Добавил в систему: Ныммик Рихо Альфредович