|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Рентгеновская резонансная рефлектометрия с использованием поляризованного СИ как метод исследования магнитных мультислоевстатья
- Авторы: Андреева М.А., Смехова А.Г., Рогалев А.
- Сборник: Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»
- Год издания: 2008
- Место издания: г. Великий Новгород
- Первая страница: 62
- Последняя страница: 65
- Добавил в систему: Андреева Марина Алексеевна