Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Рентгеновская рефлектометрия пленок и сверхрешеток на основе манганитов с гигантским магнитосопротивлением и структурно совместимых с высокотемпературными сверхпроводниками
статья
Авторы:
Степанцов Е.А.
, Ломов А.А.,
Ганьшина Е.А.
,
Андреева М.А.
,
Ломбарди Ф.
,
Винклер Д.
Сборник:
Сборник материалов и программа Четвёртого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»
Год издания:
2008
Место издания:
г. Великий Новгород
Первая страница:
201
Последняя страница:
203
Добавил в систему:
Андреева Марина Алексеевна