Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Optical characterization of thin films using high-accuracy oblique transmittance measurements
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Авторы:
Nevas S.
,
Manoocheri F.
,
Ikonen E.
,
Tikhonravov A.V.
,
Kokarev M.A.
,
Trubetskov M.K.
Сборник:
Abstracts of Northern Optics 2003
Тезисы
Год издания:
2003
Место издания:
Espoo, Finland
Первая страница:
60
Добавил в систему:
Тихонравов Александр Владимирович