|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Измерение толщины нанопленок с помощью электронного зонда микроанализаторастатья
- Авторы: Кузьменко А.П., Родионов В.В., Нау Динт, Зюзин А.К., Лукашов В.Е.
- Журнал: Физика и технология наноматериалов и структур
- Том: 2
- Год издания: 2017
- Первая страница: 94
- Последняя страница: 100
- Добавил в систему: Комисов Александр Александрович