|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
The single-crystallinity effect in preferential sputtering of two-component ultrathin films under ion beam processing: molecular dynamics computer simulation studyтезисы доклада
- Авторы: Samoilov V.N., Ananieva N.G.
- Сборник: Abstracts of Materials Research Society 1995 Spring Meeting, San Francisco, Ca., U.S.A., 17-21 April 1995
- Тезисы
- Год издания: 1995
- Место издания: San Francisco, Ca., U.S.A
- Первая страница: R7.22
- Последняя страница: R7.22
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич