|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
ИНТЕГРИРОВАННАЯ СИСТЕМА СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП—ПЬЕЗОКВАРЦЕВЫЕ МИКРОВЕСЫ ДЛЯ IN-SITU ИССЛЕДОВАНИЯ СЕНСОРНЫХ СВОЙСТВ МИКРОКОЛИЧЕСТВ НАНОМАТЕРИАЛОВстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Попов В.С., Субчева Е.Н., Шелаев А.В., Павелко Р.Г., Севастьянов В.Г., Кузнецов Н.Т.
- Журнал: Химическая технология
- Том: 14
- Год издания: 2013
- Издательство: Наука и технологии
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 56
- Последняя страница: 61
- Добавил в систему: Кузнецов Николай Тимофеевич