Аннотация:Под действием ионизирующего излучения в электронной аппаратуре возникают различные радиационные эффекты, которые могут привести как кратковременному, так и полному выведению аппаратуры из строя. Одним из основных эффектов является появление одиночных случайных сбоев, приводящих в свою
очередь к возникновению временных нарушений работоспособности аппаратуры - случайных сбоев. Необходимо отметить, что рост числа сбоев в комбинационных схемах, возникающий по причине изменения таких параметров как уменьшение технологических норм, увеличение рабочих частот и т.д., может привести к тому, что частота возникновения сбоев в скором времени будет сопоставима с частотой в незащищенных элементах памяти. Для борьбы с последствиями возникновения случайных сбоев существует множество различных методов. Одним из основных является метод на основе синтеза средств контроля. В рамках комбинационных схем данный подход реализуется с помощью синтеза схем функционального контроля (СФК) на основе избыточного кодирования, позволяющих обнаружить и в некоторых случаях исправить ошибки, возникающие в схеме. Данная статья посвящена развитию данного направления. Для синтеза сбоеустойчивых комбинационных схем в статье предлагается использовать метод синтеза СФК на основе низкоплотностного (LDPC) кода, позволяющего исправить однократную ошибку.
