|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Измерение электрофизических свойств металлических микроконтактов с применением методов фрактальной геометрии для анализа данных атомно-силовой микроскопиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Кутровская С.В., Антипов А.А., Аракелян С.М., Кучерик А.О., Осипов А.В.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Том: 3
- Год издания: 2017
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 59
- Последняя страница: 65
- Добавил в систему: Кучерик Алексей Олегович