|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Model approach to solving the inverse problem of X-ray reflectometry and its application to the study of the internal structure of hafnium oxide filmsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 августа 2016 г.
- Авторы: Volkov Yu O., Kozhevnikov I.V., Roshchin B.S., Filatova E.O., Asadchikov V.E.
- Журнал: Crystallography Reports
- Том: 58
- Номер: 1
- Год издания: 2013
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 160
- Последняя страница: 167
- DOI: 10.1134/s1063774513010148
- Добавил в систему: Асадчиков Виктор Евгеньевич