|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Characterization of single-crystal sapphire substrates by X-ray methods and atomic force microscopyстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 августа 2016 г.
- Авторы: Prokhorov I.A., Zakharov B.G., Asadchikov V.E., Butashin A.V., Roshchin B.S., Tolstikhina A.L., Zanaveskin M.L., Grishchenko Yu V., Muslimov A.E., Yakimchuk I.V.
- Журнал: Crystallography Reports
- Том: 56
- Номер: 3
- Год издания: 2011
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 456
- Последняя страница: 462
- DOI: 10.1134/s1063774511030242
- Добавил в систему: Асадчиков Виктор Евгеньевич