Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Повышение точности рентгеновского микроанализа в РЭМ с помощью трехмерной реконструкции микрорелькфа поверхности по стереоизображениям
тезисы доклада
Авторы:
Юрковец Д.И.
,
Соколов В.Н.
,
Разгулина О.В.
,
Чернов М.С.
Сборник:
Тезисы докладов XXII Российской конференции по электронной микроскопии
Тезисы
Год издания:
2008
Место издания:
Черноголовка
Первая страница:
198
Последняя страница:
198
Добавил в систему:
Чернов Михаил Сергеевич