|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis of Advanced Oxide Nanomaterialsтезисы доклада
- Авторы: Alov N., Sharanov P., Filatova D.
- Сборник: Book of Abstracts. IV International Conference on Radiation and Applicationsin Various Fields of Research
- Тезисы
- Год издания: 2016
- Место издания: Niš, Serbia
- Первая страница: 390
- Последняя страница: 390
- Добавил в систему: Шаранов Павел Юрьевич