|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Application of X-Ray Diffraction Methods in the Study of Micrometer-Sized Porous Si Layersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 апреля 2022 г.
- Авторы: Lomov A.A., Bushuev V.A., Kartsev A.A., Karavanskii V.A., Vasil’ev A.L.
- Журнал: Crystallography Reports
- Том: 54
- Номер: 3
- Год издания: 2009
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 379
- Последняя страница: 385
- DOI: 10.1134/S1063774509030031
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Cryst.Rep_2009-543-p379_-_Application_of_X-ray_diffr.method… | 401,7 КБ | 21 мая 2014 [bushuevVA] |