|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Определение стехиометрии и толщины нитридных покрытий с помощью метода обратного рассеяния протоновтезисы доклада
- Авторы: Романовский Е.А., Горяга Н.Г., Борисов А.М., Куликаускас В.С., Ходырев В.А., Данг Лам, Нгуен Мак Ха
- Сборник: Тезисы докладов 44 Международного совещания по ядерной спектроскопии и строению атомного ядра
- Тезисы
- Год издания: 1994
- Место издания: Изд.С.-Пб
- Первая страница: 197
- Последняя страница: 197
- Добавил в систему: Медведева Лариса Александровна