|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхностистатья
- Авторы: Гуляев П.В., Шелковников Ю.К., Кириллов А.И., Ермолин К.С.
- Журнал: Интеллектуальные системы в производстве
- Том: 16
- Номер: 2
- Год издания: 2018
- Первая страница: 48
- Последняя страница: 55
- Добавил в систему: Кириллов Андрей Игоревич