Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Особенности применения приводов сближения при использовании туннельного микроскопа для технологического контроля поверхности
статья
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Авторы:
Гуляев П.В.
,
Шелковников Ю.К.
,
Кириллов А.И.
,
Ермолин К.С.
Журнал:
Интеллектуальные системы в производстве
Том:
16
Номер:
2
Год издания:
2018
Первая страница:
48
Последняя страница:
55
Добавил в систему:
Кириллов Андрей Игоревич