|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Direct observation of amorphous to crystalline phase transitions in Ge-Sb-Te thin films by Grazing Incidence X-ray Diffraction methodстатья
- Авторы: Kozyukhin S., Nikolaev I., Lazarenko P., Valkovskiy G., Konovalov O., Kolobov A., Grigoryeva N.
- Журнал: Journal of Materials Science: Materials in Electronics
- Год издания: 2020
- Издательство: Springer Nature
- Местоположение издательства: Switzerland
- DOI: 10.1007/s10854-020-03565-7
- Добавил в систему: Еремина Елена Алимовна