|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Измерение наноструктур методом морфологического анализа изображенийтезисы доклада
- Авторы: Устинин Д.М., Чуличков А.И.
- Сборник: 7-е Всероссийское Совещание-семинар «Инженерно-физические проблемы новой техники». Тезисы докладов
- Тезисы
- Год издания: 2003
- Место издания: Москва, МГТУ им.Баумана
- Первая страница: 463
- Последняя страница: 464
- Добавил в систему: Чуличков Алексей Иванович