|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Распределённая калибровка сканера зондового микроскопа в нанометровом диапазонетезисы доклада
- Автор: Лапшин Р.В.
- Сборник: XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел (РЭМ-2011)
- Тезисы
- Год издания: 2011
- Издательство: Российская академия наук
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 94
- Последняя страница: 94
- Добавил в систему: Лапшин Ростислав Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | R._V._Lapshin_Distributed_calibration_of_probe_microscope_s… | 1,1 МБ | 1 августа 2020 [Lapshin] | |
| 2. | Доклад | R._V._Lapshin_Presentation_Distributed_calibration_of_probe… | 364,0 КБ | 1 августа 2020 [Lapshin] | |
| 3. | Report | R._V._Lapshin_Presentation_Distributed_calibration_of_probe… | 315,1 КБ | 1 августа 2020 [Lapshin] |