|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Scanning tunneling microscope measurements of the spatial characteristics of ordered surface nanostructuresтезисы доклада
- Авторы: Lapshin R.V., Ryabokon V.N., Denisov A.V., China P.R.
- Сборник: The Fourth International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO-IV)
- Тезисы
- Год издания: 1996
- Место издания: Beijing, P. R. China
- Добавил в систему: Лапшин Ростислав Владимирович