Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Non-destructive characterization of epitaxial perovskite layers by Raman spectrometry
статья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
Авторы:
Amelitchev V.A.
,
Novojilov M.A.
,
Gorbenko O.Yu
,
Kaul A.R.
,
Guttler B.
Сборник:
Proceedings of the International Conference "Thin Film Deposition of Oxide Multilayers. Industrial Scale Processing", Vilnius, Lithuania, 28-29 September, 2000
Год издания:
2000
Место издания:
Eds. B.Vengalis, A.Abrutis Vilnius University Press
Первая страница:
91
Последняя страница:
94
Добавил в систему:
Кауль Андрей Рафаилович