|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Применение метода DAFS для оценки элементного состава приборных наноструктурстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКДата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 января 2021 г.
- Авторы: Ковалев А.А., Лобанова Е.М., Завозин В.А.
- Журнал: Технология металлов
- Номер: 6
- Год издания: 2019
- Первая страница: 40
- Последняя страница: 46
- DOI: 10.31044/1684-2499-2019-6-0-40-46
- Аннотация: Настоящая статья посвящена методу исследования аномальной дифракционной тонкой структуры (DAFS). Исследуя этот спектр, можно получить информацию как о пространственном расположении рассеивателей (дальний порядок), так и о локальном окружении резонансно рассеивающего атома (ближний порядок). Приведены примеры изучения аномальной дифракционной структуры некоторых наноматериалов, таких как наноточек и нанопроводов.https://www.elibrary.ru/item.asp?id=39192302
- Добавил в систему: Лобанова Екатерина Михайловна