|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Shannon functions of stuck-at faults test set cardinalities for Boolean circuits – A surveyстатья
- Авторы: Romanov D., Romanova E.
- Сборник: Economic and Social Development (Book of Proceedings), 60th International Scientific Conference on Economic and Social Development – XX International Social Congress (ISC 2020)
- Год издания: 2020
- Место издания: Varazdin Development and Entrepreneurship Agency Varazdin (Croatia)
- Первая страница: 347
- Последняя страница: 354
- Добавил в систему: Романов Дмитрий Сергеевич