|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Critical current in planar SNS Josephson junctionsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Golikova T.E., Hubler F., Beckmann D., Klenov N.V., Bakurskiy S.V., Kupriyanov M.Yu, Batov I.E., Ryazanov V.V.
- Журнал: JETP Letters
- Том: 96
- Номер: 10
- Год издания: 2012
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 668
- Последняя страница: 673
- DOI: 10.1134/S0021364012220043
- Аннотация: Specific features of the proximity effect and Josephson behavior of submicron planar SNS junctions fabricated by electron beam lithography and shadow evaporation have been studied experimentally and theoretically. The critical current of the junctions has been found to drastically increase with a decrease in temperature, which is associated with a change in the effective size of the weak link owing to the additional SN interface.
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 2013_Golikova-T.E._Ryazanov-V.V._JETP-Lett.pdf | 2013_Golikova-T.E._Ryazanov-V.V._JETP-Lett.pdf | 445,7 КБ | 4 марта 2016 [mkupr] |