|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
A New Experimental Method for Determining the Thickness of Thin Surface Layers of Intensive Plastic Deformation Using Electron Backscatter Diffraction Dataстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 февраля 2021 г.
- Авторы: Smirnov A., Smirnova E., Alexandrov S.
- Журнал: Symmetry
- Том: 12
- Номер: 4
- Год издания: 2020
- Издательство: MDPI
- Местоположение издательства: Basel, Switzerland
- Номер статьи: 677
- DOI: 10.3390/sym12040677
- Добавил в систему: Александров Сергей Евгеньевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|