|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Analysis of the structure of thin amorphizing layers of the Fe-Si-Cu-Mg-O systemстатья
- Авторы: Nikul'chenkov N.N., Loginov A.B., Danilov S.V., Loginov B.A.
- Журнал: AIP Conference Proceedings
- Том: 2315
- Номер: 030012
- Год издания: 2020
- DOI: 10.1063/5.0037044
- Добавил в систему: Логинов Артем Борисович