Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) for Low-stress Directly Examining of Cellular Mechanicsстатья

Статья опубликована в высокорейтинговом журнале

Информация о цитировании статьи получена из Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 апреля 2021 г.