Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Способ измерения высоты микрорельефа поверхности с использованием отраженной гигантской второй гармоники лазера
статья
Авторы:
Базыленко В.А.
,
Шапошников Л.В.
Сборник:
Сборник докладов IX Международной конференции молодых ученых и специалистов «Оптика-2015»
Серия:
ISBN978-5-7577-0509-5 ББК 22.34 Оптика
Том:
79
Год издания:
2015
Место издания:
Санкт-Петербург
Добавил в систему:
Базыленко Валерий Андреевич