Algorithm for preparation of multilayer systems with high critical angle of total reflectionстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
Аннотация:A development of the theory of multilayer systems is presented. It shows precisely how to calculate thicknesses and number of layers to get reflectivity close to unity for a given arbitrary critical angle. Application of the proposed approach to real systems is demonstrated.