Аннотация:Метод фантомных изображений (ФИ) - это способ визуализации свойств объекта, в котором информация об объекте извлекается из пространственной корреляционной функции зондирующего излучения, проходящего через объект, и опорного излучения, не взаимодействующим с ним. При формировании ФИ используются как квантовые , так и классические корреляции. Метод ФИ позволяет получать информацию о пространственном распределении модуля и фазы коэффициентов пропускания/отражения образца. Кроме того, метод ФИ позволяет извлечь информацию о пространственном распределении поляризационных свойств изучаемых образцов. В докладе представлено общее теоретическое описание двухлинзовой схемы (как в зондирующем, так и в опорном плечах установлены линзы). Получено общее условие формирования квантовых фантомных изображений в двухлинзовой схеме, которое зависит от всех параметров элементов схемы.