|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Study of the correlation properties of the surface structure of nc-Si/a-Si:H films with different fractions of the crystalline phaseстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 14 декабря 2016 г.
- Авторы: Alpatov A.V., Vikhrov S.P., Kazanskii A.G., Lyaskovskii V.L., Rybin N.B., Rybina N.V., Forsh P.A.
- Журнал: Semiconductors
- Том: 50
- Номер: 5
- Год издания: 2016
- Издательство: Springer
- Местоположение издательства: New York
- Первая страница: 590
- Последняя страница: 595
- Добавил в систему: Казанский Андрей Георгиевич