Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
On the problem of surface relief development during gas cluster ion beam depth profiling
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 апреля 2022 г.
Авторы:
Ieshkin A.E.
,
Kireev D.S.
,
Ryabtsev M.O.
Сборник:
IBA/PIXE&SIMS 2021, 11-15 October 2021
Тезисы
Год издания:
2021
Первая страница:
94
Последняя страница:
95
Добавил в систему:
Иешкин Алексей Евгеньевич